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Innovalia Metrology Blog

“Metrología para una fabricación de cero defectos” en Metromeet

Febrero 2019
05
Autor: Innovalia Metrology
Empresa: Innovalia Metrology Munich
“Metrología para una fabricación de cero defectos” en Metromeet

En la pasada edición de Metromeet, la Conferencia Internacional de Metrología Internacional, Toni Ventura, CEO de Datapixel abría la Conferencia con un tutorial especial en que habló del término “cero defectos”.

El concepto de “Cero-Defectos” lleva existiendo muchos años y uno de los grandes errores es creer que este concepto nos presiona a producir sin desperdicios, sin emisiones, sin accidentes, sin pérdidas, sin desempleo… Y más allá de una producción idílica, Toni Ventura citó a Phil Crosby para explicar una definición de “cero-defectos” más realista.

“Una organización debe trabajar en conseguir la perfección en cada etapa del proceso, la Calidad debe ser causada no controlada” y si bien la definición de calidad debe ser definida por cada organización, el sistema de calidad debería considerarse un método de prevención y no como una etapa final en el proceso que nos sirva para determinar si la calidad de la producción ha sido la esperada. El carismático Toni Ventura resaltaba que la industria ha visto siempre la metrología como un proceso costoso y que no aporta valor, pero es en realidad parte imprescindible del proceso productivo y parte del valor añadido de una empresa ya que la medición de calidad es el precio del inconformismo.

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